Numberland - New Processes, New Materials

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Methoden der instrumentellen Analytik

S

SAXS - Small Angle X-Ray Scattering

Im Gegensatz zu Neutronen, die mit den Atomkernen von Proben reagieren, wechselwirken Röntgenquanten mit der Elektronenhülle. Wie bei der statischen Lichtstreuung gilt auch hier, dass kleine Streuwinkel durch relativ grobe Strukturen in der Probe verursacht werden. SXAS ist deswegen eine Methode, um nicht Atomabstände, sondern Moleküle oder Partikel zu untersuchen.

SCANIIR - Surface Composition By Analysis Of Neutral Species And Ion-impact Radiation

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SDS-PAGE - Sodium Dodecyl Sulfate (SDS) Polyacrylamide Gel Electrophoresis (PAGE)

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SE - Spetroscopic Ellipsometry

Mit SE können die optischen Konstanten (Brechzahl) einer Probe sowie die den Lichtstrahl reflektierende Schichtdicke bestimmt werden. Dazu wird eine Probe mit polarisiertem Licht beleuchtet, und der durch die Reflexion an der Probe geänderte Polarisationszustand des Lichts nach der Probe bestimmt.

SEC - Size-exclusion Chromatography

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SEIRA -Surface Enhanced Infrared Absorption Spectroscopy

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SEM - Scanning Electron Microscopy

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SEXAFS - Surface Extended X-Ray Absorption Fine Structure

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SFC - Supercritical-fluid Chromatography

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SFE - Solid-phase Extraction

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SFE - Supercritical-fluid Extraction

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SIMS - Secondary Ion Mass Spectrometry

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SNMS - Sputtered Neutral Species Mass Spectroscopy

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SNOM - Scanning Near-Field Optical Microscopy

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SPM - Scanning Probe Microscopy

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STEM  Scanning Transmission Electron Microscopy

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STM - Scanning-Tunneling Microscopy

Mit scanning-tunneling microscopy (STM) können elektrisch leitfähige Materialien mit atomarer Genauigkeit untersucht werden. Dazu wird eine metallische Spitze, die so fein ist, dass sie am Ende aus genau einem Atom besteht, sehr nahe an die zu untersuchende Oberfläche gebracht. Anschließend werden die Spitze und die Probe mit den beiden Polen einer Stromquelle verbunden. Es fließ ein geringer Strom, dessen Stärke vom Abstand der Spitze von der Probenoberfläche abhängt. Indem die Spitze über die Probenoberfläche bewegt wird, kann die Gestalt der Oberfläche untersucht werden. Dazu wird in der Regel der zwischen Spitze und Probenoberfläche fließende Strom gemessen, und auf einen konstanten Wert geregelt. Die dazu notwendige Bewegung der Spitze in Richtung der Probe oder weg von dieser bildet die Gestalt der Probenoberfläche direkt ab.

STXM - Scanning Transmission X-Ray Microscopy

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